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光学非球面绝对式面形检测设备-公开招标公告

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光学非球面绝对式面形检测设备项目已具备招标条件。资金来源自筹资金，出资比例为100%。****（招标代理机构）受中国科学院长春光学精密机械与物理研究所（招标人）的委托，对该项目进行国际公开招标采购。 1. 招标范围 1.1 货物名称：光学非球面绝对式面形检测设备 1.2 招标编号：XXXXXA007 1.3设备主要技术指标： 1.3.1测量口径：优于Φ350mm×150mm。 1.3.2空间分辨率：优于0.1nm。 1.3.3不确定度：优于5nm RMS。 1.3.4光学测头最大接收角≥±20°。 1.3.5可以针对自由曲面进行检测，包含离轴元件数据输入与坐标转换、多种形式的自由曲面公式输入（例如Zernike、Forbes及自定义公式输入）。 1.3.6具备基准校准接触式测头，可以测量光学测头难以检测的表面。 1.3.7可以针对研磨后的粗糙表面进行检测，并对检测数据进行处理与优化。 1.4 数量：1台 1.5 交货期：签订合同后6个月内交货。 1...

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